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  · Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：     Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術(shù)，擁有15°、90°與173°三個(gè)散射角度，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性，硬件PALS技術(shù)解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測(cè)量，是一
更新時(shí)間: 2024-06-06
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  · 高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：     90Plus PALS高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀是目前能夠精確測(cè)量低電泳遷移率體系Zeta電位的儀器，它采用的是真正的硬件PALS(相位分析光散射)技術(shù)，比其它測(cè)量Zeta電位的技術(shù)靈敏度高約1000倍！ 詳細(xì)說明：     NanoBrook產(chǎn)品系列   項(xiàng)目
更新時(shí)間: 2024-06-06
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  · Zeta電位及粒度分析儀
簡(jiǎn)單介紹：     ZetaPlus是簡(jiǎn)單、方便而且準(zhǔn)確的電泳遷移率測(cè)量?jī)x器，其獨(dú)特的開放式樣品槽設(shè)計(jì)與頻譜漂移分析技術(shù)相結(jié)合，使其具有優(yōu)異的分辨率，足以分辨等電點(diǎn)附近的多峰電泳分布情況。它的革新之處是消除了傳統(tǒng)Zeta電位測(cè)量?jī)x器中固有的電滲誤差的影響，從而使測(cè)量變得準(zhǔn)確而方便。 詳細(xì)說明：     NanoBrook產(chǎn)品系列 &n
更新時(shí)間: 2024-06-06
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