高分辨Zeta電位分析儀的工作原理主要基于電泳動力學原理。當帶電顆粒在外加電場的作用下進行運動時，顆粒表面的電荷與電場相互作用，產(chǎn)生一個阻力，使得顆粒的遷移速度與電場強度成正比。這種運動會導致散射光產(chǎn)生頻率漂移，即多普勒頻移。
分析儀采用頻譜漂移分析技術，通過測量顆粒在電場中的遷移速度以及電場強度，從而計算出顆粒表面電荷的絕對值和電荷密度。這些信息進而可以用來確定顆粒的電泳遷移率和Zeta電位。
值得注意的是，Zeta電位是一個表征分散體系穩(wěn)定性的重要指標。它實際上是擴散層的電位差，反映了粒子表面凈電荷的存在以及粒子周圍離子分布的情況。通過測量Zeta電位，我們可以了解分散體系中粒子的穩(wěn)定性和相互作用，這對于納米材料、高分子膠乳、蛋白質(zhì)和脂質(zhì)體研究，以及陶瓷、涂料、采礦、造紙業(yè)、水處理、化妝品和制藥業(yè)等行業(yè)都具有重要意義。
高分辨Zeta電位分析儀的特點在于其高分辨率和廣泛的測量范圍。它能夠測量液體介質(zhì)中粒子或大分子的多種特性，包括粒度、粒度分布、Zeta電位、PH值和電導率等。這使得它成為研究溶液中線度為納米、亞微米的顆粒以及懸浮液體系穩(wěn)定性的有力工具。
綜上所述，高分辨Zeta電位分析儀通過測量顆粒在電場中的遷移速度和電場強度，計算出顆粒表面電荷和Zeta電位，從而實現(xiàn)對分散體系穩(wěn)定性的評估和監(jiān)測。
